NE-Sonde für MiniTest-7400, 700 µm

0,7 mm NE-Sonde für Schichtdickenmessung

• SIDSP Digitale Sondentechnologie mit extremer Genauigkeit und sehr hoher Reproduzierbarkeit
• Misst isolierende Schichten auf NE-Metallen
• Messbereich NE 0 bis 700 µm
• Genauigkeit ± (1 µm + 0,75 % vom Messwert)
• Verschleißfeste Messsonde mit geradem Kabelabgang
• Kleinster Krümmungsradius konvex 1,0 mm, konkav 7,5 mm
• Kleinste Messfläche ohne Stativ Ø 14 mm, mit Präzisisionsstativ Ø 5 mm
• Kleinste Substratdicke 40 µm
• Abmessungen: Ø 15,3 mm, Länge 100 mm
• Lieferumfang: Nullplatten, Präzisionsstandards (Folien), Herstellerprüfschein
• Optional mit rechtwinkligem Kabelabgang mit Sondenlänge 62,5 mm lieferbar