NE-Sonde für MiniTest-7400, 200 µm

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  • N-0.2-SIDSP
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    0,2 mm NE-Sonde für Schichtdickenmessung SIDSP Digitale Sondentechnologie mit extremer... mehr
    NE-Sonde für MiniTest-7400, 200 µm

    0,2 mm NE-Sonde für Schichtdickenmessung

    • SIDSP Digitale Sondentechnologie mit extremer Genauigkeit und sehr hoher Reproduzierbarkeit
    • Misst isolierende Schichten auf NE-Metallen
    • Messbereich NE 0 bis 200 µm
    • Genauigkeit ± (1 µm + 0,75 % vom Messwert)
    • Verschleißfeste Messsonde mit geradem Kabelabgang
    • Kleinster Krümmungsradius konvex 1,0 mm, konkav 7,5 mm
    • Kleinste Messfläche ohne Stativ Ø 14 mm, mit Präzisisionsstativ Ø 5 mm
    • Kleinste Substratdicke 40 µm
    • Abmessungen: Ø 15,3 mm, Länge 100 mm
    • Lieferumfang: Nullplatten, Präzisionsstandards (Folien), Herstellerprüfschein
    • Optional mit rechtwinkligem Kabelabgang mit Sondenlänge 62,5 mm lieferbar
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